- Mit-Entwicklung einer Dickenmessanlage zum Vermessen der Dicke von beschichteten Photovoltaik-Wafern.- Eigenständige Entwicklung einer autarken Station zur lateralen Vermessung von Photovoltaik-Wafern mithilfe optischer Sensoren.- Eigenständige Entwicklung einer autarken Station zur Vermessung von Schnittkanten von gesägten Wafern mithilfe optischer Sensoren. - Mit-Entwicklung einer Wafersäge zum Zuschneiden von Photovoltaik-Wafern mit einer Genauigkeit 4-5 µm- Entwicklung einer Automatisierungsanwendung für eine Radar-Qualitätsprüfungsanlage für Embleme in der Automobilindustrie eines bekannten Automobilherstellers.- Entwicklung einer Automatisierungsanwendung für die Qualitätsprüfung von geprägten Seriennummern in Motorblöcken mithilfe eines 3D-Profilsensors.