- Process Engineering & ICT Test Manager- Developer of In-circuit Test Applications on Keysight/Agilent 3070 test systems.- Agilent 3070 Boundary Scan test development (IEEE1149.1).- Use of Xjtag Suite for Advanced tools testing, debugging & programming complex electronic boards and systems directly on Agilent 3070 ICT System.- Trainer for Programmers, Operators, Repair Technicians on Keysight/Agilent 3070 test systems.- Study and design of Functional Tests at the end of line EOL (End Off Line)- DFT and Testability Leader- Leader for developing the design for test strategy for products from board level through to system level, and ensuring that designs are testable and suited to manufacture.- Provide guidance ,training and support in testability at R&D department.- Design of electronic boards and systems for automatic functional tests.- Product Industrialization Department building functional ,customized test equipment and bench simulator.- Electronic Board and PCB Designer.

Dal Gennaio 1998 impiegato tecnico con mansioni di responsabile del reparto di collaudo R4 specializzato nella creazione hw/sw di attrezzature di collaudo funzionali automatiche a letto d'aghi,basate su strumentazione GPIB/IEE488 e su schede di acquisizione dati gestite dal software LabVIEW di National Instruments.Dal Novembre 2000 rivesto l'incarico di "Test Engineer" nel reparto COE-HP3070 della Divisione Elettronica (DEL), occupandomi dello sviluppo delle fixture e dei test in-circuit di schede schede elettroniche per i board tester Agilent 3070.Attività svolte:- Studio della testabilità DFT (Design for testability) riguardante l'accessibilità dei nodi,le disabilitazione dei componenti, ed altre attività associate che hanno il compito di migliorare la collaudabilità della scheda elettronica.- Traduzione dei dati CAD in formato 3070.- Generazione dei file per la costruzione delle fixture a vuoto e per board-handler.- Sviluppo di test in-circuit tradizionali.- Sviluppo di test funzionali analogici/digitali.- Sviluppo di test con tecnologia vectorless Testjet.- Sviluppo librerie componenti per piattaforma Aglient 3070.- Sviluppo di test Boundary Scan (IEEE1149.1).- Programmazione di componenti tipo Flash,PLD,DSP,EEPROM seriali,PIC,custom chip,dispositivi I2C,dispositivi ISP,custom.- Conversione file per la programmazione on-board (JED,SVF,BIN,HEX,...)- Sviluppo di tools personalizzati (ho creato un tools PIC2PCF per programmare on-board alcuni dispositivi PIC della Microchip, utilizzando esclusivamente le risorse interne del board tester).- Generazione dei report di collaudo,raccolta dati e statistiche di produzione.- Supporto post-debug alla produzione e alle eventuali ricerche guasti per la riparazione delle schede elettroniche.- Assistenza e supporto remoto verso tutti i board tester installati del gruppo SELCOM.

Impiegato tecnico di 4° livello adibito al reparto di collaudo elettronico e riparazione nonchè mansioni di collaborazione con ufficio tecnico R&D.

Sviluppo hardware e software di attrezzature di collaudo automatico di schede elettroniche mediante fixture a letto d'aghi, basato sull'utilizzo di strumentazione gestita da software LabView di National Instruments.

1989-1991 Impiegato tecnico di 3° livello adibito al reparto di collaudo elettronico.1991-1993 Impiegato tecnico di 4° livello con mansioni di progettista senior nel reparto R&D1993-1995 Impiegato tecnico di 5° livello con mansioni di progettista e responsabile tecnico reparto R&D.